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麥科信示波器光隔離探頭MOIP系列
麥科信示波器光隔離探頭MOIP系列
由于具有的共模抑制比和隔離電壓、全量程范圍內最大1.41mVrms底噪、優于1% 的測量精度,MOIP系列光隔離探頭在帶寬和精度范圍內能最真實地呈現信號全部特征,是判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判。
第三代半導體器件由于導通與關斷時間很短,信號具有更快的上升沿和下降沿,信號中具有很高能量的高頻諧波,MOIP系列光隔離探頭在最高帶寬時,仍然具有近100dB的共模抑制比,可以抑制高頻共模噪聲所產生的震蕩,所呈現的信號沒有額外多余成分,是第三代半導體測試的。
MOIP系列光隔離探頭測試引線短且采用同軸傳輸,探頭輸入電容小于3pF,測試氮化鎵(GaN)十分安全(當器件工作參數已經處于炸管臨界狀態時,接上測試設備會多出近3pF電容,不能保證絕對安全)。
麥科信示波器光隔離探頭MOIP系列 MOIP500P采用 SigOFIT™光纖隔離技術,擁有共模抑制比和隔離電壓,在其帶寬范圍內洞見信號的全部真相,是判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判。麥科信示波器光隔離探頭MOIP系列 MOIP500P
SigOFIT 光隔離探頭
基于SigOFIT™ 技術的光隔離探頭,擁有很高的共模
抑制比和隔離電壓,在其帶寬范圍內洞見信號的全部真相,
是判定其他 電壓探頭所測信號真實性的裁判。此外,
SigOFIT光隔離探頭采用先進的激光供電技術,很好地解決了
隔離供電的問題。
帶寬:DC-1GHz 共模電壓: 85kVpk
直流增益精度:1% 共模抑制比:高達180dB
SigOFIT光隔離探頭具有非常高的共模抑制比,在100MHz時CMRR高達128dB、在1GHz時CMRR仍然高達108dB,是判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判。
作為判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判,測試精度是SigOFIT光隔離探頭的重要指標。SigOFIT光隔離探頭,具有很好的幅頻特性,直流增益精度優于1%,底噪小于0.45mVrms,預熱5min后零點漂移小于0.1%,增益漂移小于1%。
第三代半導體器件由于導通與關斷時間很短,信號具有更快的上升沿和下降沿,信號中具有很高能量的高頻諧波,SigOFIT光隔離探頭在最高帶寬時,仍然具有超100dB的共模抑制比,可以很地抑制高頻共模噪聲所產生的震蕩,所呈現的信號沒有額外多余成分,是第三代半導體測試的優先。
SigOFIT光隔離探頭測試引線短且采用同軸傳輸,探頭輸入電容小于2.5pF,測試氮化鎵(GaN)十分安全。
SigOFIT光隔離探頭比傳統高壓差分探頭體積更小,探頭引線更精巧,使用更加靈活方便。
不同于高壓差分探頭只可以測試高壓信號,SigOFIT光隔離探頭通過匹配不同的衰減器,可以測試±0.1V至±5000V的差模信號,并實現滿量程輸出,達到很高的信噪比。
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